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產(chǎn)品展示

首頁-產(chǎn)品展示---EDX4500H能量色散X熒光光譜儀

能量色散X熒光光譜儀

產(chǎn)品描述:EDX4500H能量色散X熒光光譜儀的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準(zhǔn)確分析,在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

  • 產(chǎn)品型號

    EDX4500H
  • 更新時(shí)間

    2024-06-12
  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商
  • 瀏覽次數(shù)

    750
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詳細(xì)介紹

產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準(zhǔn)確分析,在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

能量色散X熒光光譜儀性能特點(diǎn)

超薄窗X光管
數(shù)字多道技術(shù),讓測試更快,計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS,準(zhǔn)度更高,在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素,對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴(kuò)展測試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解,使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析度
多參數(shù)線性回歸方法,使元素間的吸收、增大效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)(管壓、管流、真空度)一目了然

能量色散X熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號:EDX 4500H
產(chǎn)品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間:30秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素)


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